SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-50048"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:liu-50048" > Sample preserving d...

  • Holmström, E. (författare)

Sample preserving deep interface characterization technique

  • Artikel/kapitelEngelska2006

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:liu-50048
  • 10.1103/PhysRevLett.97.266106doi
  • 000243167300029isi
  • 2-s2.0-33846395108scopus
  • urn:nbn:se:uu:diva-146644urn
  • urn:nbn:se:liu:diva-50048urn
  • urn:nbn:se:kth:diva-16234urn

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • 14
  • Published
  • QC 20100525
  • We propose a nondestructive technique based on atomic core-level shifts to characterize the interface quality of thin film nanomaterials. Our method uses the inherent sensitivity of the atomic core-level binding energies to their local surroundings in order to probe the layer-resolved binary alloy composition profiles at deeply embedded interfaces. From an analysis based upon high energy x-ray photoemission spectroscopy and density functional theory of a Ni/Cu fcc (100) model system, we demonstrate that this technique is a sensitive tool to characterize the sharpness of a buried interface. We performed controlled interface tuning by gradually approaching the diffusion temperature of the multilayer, which lead to intermixing. We show that core-level spectroscopy directly reflects the changes in the electronic structure of the buried interfaces, which ultimately determines the functionality of the nanosized material. © 2006 The American Physical Society.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Olovsson, W.(SwePub:) (författare)
  • Abrikosov, I. A.(SwePub:) (författare)
  • Niklasson, A. M. N.(SwePub:) (författare)
  • Johansson, B.,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:) (författare)
  • Gorgoi, M.(SwePub:) (författare)
  • Karis, Olof,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:) (författare)
  • Svensson, S.,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:) (författare)
  • Schäfers, F.(SwePub:) (författare)
  • Braun, W.(SwePub:) (författare)
  • Öhrwall, Gunnar,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:) (författare)
  • Andersson, Gabriella,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:uu)gabrande (författare)
  • Marcellini, Moreno,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:) (författare)
  • Eberhardt, W.(SwePub:) (författare)
  • Holmstrom, E.,Holmström, E., Theoretical Division, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, NM 87545, United States(SwePub:) (författare)
  • Schafers, F.,Schäfers, F., BESSY, Berlin, Germany(SwePub:) (författare)
  • Ohrwall, G.,Öhrwall, G., Department of Physics, Uppsala University, SE-751 21 Uppsala, Sweden(SwePub:) (författare)
  • Uppsala universitet.Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet.Fysiska sektionen.Fysiska institutionen.(SwePub:uu)1056
  • Linköpings universitet.Tekniska högskolan.(SwePub:liu)1751
  • Linköpings universitet.Institutionen för fysik, kemi och biologi.Teoretisk Fysik.(SwePub:liu)2229
  • KTH.Skolan för industriell teknik och management (ITM).Materialvetenskap.Tillämpad materialfysik.(SwePub:kth)6049

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Physical Review Letters0031-900797:26

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy