Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning


Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-146644" > Sample preserving d...

  • Holmstrom, E. (författare)

Sample preserving deep interface characterization technique

  • E-artikel/E-kapitelEngelska2006


  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:uu-146644
  • 10.1103/PhysRevLett.97.266106doi
  • 000243167300029isi
  • 2-s2.0-33846395108scopus
  • 266106
  • urn:nbn:se:kth:diva-16234urn
  • urn:nbn:se:uu:diva-146644urn
  • urn:nbn:se:liu:diva-50048urn

Ingår i deldatabas


  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype


  • QC 20100525
  • 14
  • Published
  • We propose a nondestructive technique based on atomic core-level shifts to characterize the interface quality of thin film nanomaterials. Our method uses the inherent sensitivity of the atomic core-level binding energies to their local surroundings in order to probe the layer-resolved binary alloy composition profiles at deeply embedded interfaces. From an analysis based upon high energy x-ray photoemission spectroscopy and density functional theory of a Ni/Cu fcc (100) model system, we demonstrate that this technique is a sensitive tool to characterize the sharpness of a buried interface. We performed controlled interface tuning by gradually approaching the diffusion temperature of the multilayer, which lead to intermixing. We show that core-level spectroscopy directly reflects the changes in the electronic structure of the buried interfaces, which ultimately determines the functionality of the nanosized material.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Olovsson, W.(SwePub:) (författare)
  • Abrikosov, I. A.(SwePub:) (författare)
  • Niklasson, A. M. N.(SwePub:) (författare)
  • Johansson, Börje,KTH, Tillämpad materialfysik(SwePub:kth)u13m8u34 (författare)
  • Gorgoi, M.(SwePub:) (författare)
  • Karis, O.(SwePub:) (författare)
  • Svensson, S.(SwePub:) (författare)
  • Schafers, F.(SwePub:) (författare)
  • Braun, W.(SwePub:) (författare)
  • Ohrwall, G.(SwePub:) (författare)
  • Andersson, G.(SwePub:) (författare)
  • Marcellini, M.(SwePub:) (författare)
  • Eberhardt, W.(SwePub:) (författare)
  • Holmström, E.(SwePub:) (författare)
  • Schäfers, F.(SwePub:) (författare)
  • Öhrwall, Gunnar,Uppsala universitet, Fysiska institutionen(SwePub:uu)goh29417 (författare)
  • KTH.Skolan för industriell teknik och management (ITM).Materialvetenskap.Tillämpad materialfysik.(SwePub:kth)6049 (creator_code:org_t)
  • Uppsala universitet.Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet.Fysiska sektionen.Fysiska institutionen.(SwePub:uu)1056 (creator_code:org_t)
  • Linköpings universitet.Tekniska högskolan.(SwePub:liu)1751 (creator_code:org_t)
  • Linköpings universitet.Institutionen för fysik, kemi och biologi.Teoretisk Fysik.(SwePub:liu)2229 (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Physical Review Letters0031-90071079-711497:26


Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy