Tyck till om SwePub Sök här!
onr:"10261156"
Sökning: onr:"10261156" > VLSI test principle...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.
- Wang, Laung-Terng
- Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D
- Wen, Xiaoqing
- ISBN 0123705975
- Amsterdam ; Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, cop. 2006
- Engelska xxx, 777 p.
- Serie: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
- swepub:Mat__t
Innehållsförteckning
Abstract
Recensioner
Ämnesord
Stäng
No table of content available
No summary available
No review available
Ämnesord
- VLSI (sao)
- Design (sao)
- Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing (LCSH)
- Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design (LCSH)
- Design (LCSH)
- Integrated circuits—Very large scale integration (LCSH)
Nyckelord
- Pcig Mikroelektronik
Publikations- och innehållstyp
- TK7874.75 (LCC)
- 621.39/5 (DDC)
- Pcig (kssb/8)
Hitta via bibliotek
- VLSI test principles and architectures design for testability / (Sök publikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Wang, Laung-Tern ...
- Wu, Cheng-Wen, E ...
- Wen, Xiaoqing
- Delar i serien
- The Morgan Kaufm ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
