SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-147760"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-147760" > High quality large ...

High quality large area ELOG InP on silicon for photonic integration using conventional optical lithography

Kataria, Himanshu (författare)
KTH,Halvledarmaterial, HMA
Metaferia, Wondwosen T. (författare)
KTH,Halvledarmaterial, HMA
Junesand, Carl (författare)
KTH,Halvledarmaterial, HMA
visa fler...
Zhang, Chong (författare)
Bowers, John E. (författare)
Lourdudoss, Sebastian (författare)
KTH,Halvledarmaterial, HMA
visa färre...
 (creator_code:org_t)
SPIE, 2014
2014
Engelska.
Ingår i: SMART PHOTONIC AND OPTOELECTRONIC INTEGRATED CIRCUITS XVI. - : SPIE. - 9780819499028 ; , s. 898904-
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • A simple method of growing large areas of InP on Si through Epitaxial Lateral Overgrowth (ELOG) is presented. Isolated areas of high quality InP suitable for photonic integration are grown in deeply etched SiO2 mask fabricated using conventional optical lithography and reactive ion etching. This method is particularly attractive for monolithically integrating laser sources grown on InP with Si/SiO2 waveguide structure as the mask. The high optical quality of multi quantum well (MQW) layers grown on the ELOG layer is promisingly supportive of the feasibility of this method for mass production.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

InP on Si
Photonic Integration
ELOG

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
kon (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy