Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-210353" >
Background-Force Co...
Background-Force Compensation in Dynamic Atomic Force Microscopy
-
- Borgani, Riccardo (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Thorén, Per-Anders (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Forchheimer, Daniel (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
visa fler...
-
- Dobryden, Illia (författare)
- KTH,Yt- och korrosionsvetenskap
-
- Sah, Si Mohamed (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Claesson, Per Martin (författare)
- KTH,Yt- och korrosionsvetenskap
-
- Haviland, David B. (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- AMER PHYSICAL SOC, 2017
- 2017
- Engelska.
-
Ingår i: Physical Review Applied. - : AMER PHYSICAL SOC. - 2331-7019. ; 7:6
- Relaterad länk:
-
https://doi.org/10.1...
-
visa fler...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Background forces are linear long-range interactions of the cantilever body with its surroundings that must be compensated for in order to reveal tip-surface force, the quantity of interest for determining material properties in atomic force microscopy. We provide a mathematical derivation of a method to compensate for background forces, apply it to experimental data, and discuss how to include background forces in simulation. Our method, based on linear-response theory in the frequency domain, provides a general way of measuring and compensating for any background force and it can be readily applied to different force reconstruction methods in dynamic AFM.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas