Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-32466" >
Comparative study o...
Comparative study of thermal oxides and post-oxidized depositedoxides on n-type free standing 3C-SiC
-
- Esteve, Romain (författare)
- KTH,Integrerade komponenter och kretsar
-
Schöner, A. (författare)
-
Reshanov, S.A. (författare)
-
visa fler...
-
- Zetterling, Carl-Mikael (författare)
- KTH,Integrerade komponenter och kretsar
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2010
- 2010
- Engelska.
-
Ingår i: Materials Science Forum. - 0255-5476 .- 1662-9752. ; 645-648, s. 829-832
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.4...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The electrical properties of oxides fabricated on n-type 3C-SiC (001) using wet oxidationand an advanced oxidation process combining SiO 2 deposition with rapid post oxidation steps havebeen compared. Two alternative SiO 2 deposition techniques have been studied: the plasmaenhanced chemical vapor deposition (PECVD) and the low pressure chemical vapor deposition(LPCVD). The post-oxidized PECVD oxide is been demonstrated to be beneficial in terms ofinterface traps density and reliability.
Nyckelord
- 3C-SiC
- MOS capacitors
- oxide deposition
- post-oxidation
- interface traps
- TZDB.
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas