Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-39451" >
Tunneling spectrosc...
Tunneling spectroscopy of magnetic double barrier junctions
-
- Iovan, Adrian (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Lam, Kanber (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Andersson, Sebastian (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
visa fler...
-
- Cherepov, Sergiy (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Haviland, David B. (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
- Korenivski, Vladislav (författare)
- KTH,Nanostrukturfysik
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: IEEE transactions on magnetics. - 0018-9464 .- 1941-0069. ; 43:6, s. 2818-2820
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Scanning tunneling microscopy (STM) is used to study transport in magnetic double tunnel junctions (DTJs) formed using a fixed transparency barrier of a patterned tunnel junction (TJ), and a variable tunnel barrier between the top electrode of the patterned junction and the STM tip. A sufficiently thin top electrode has been predicted to result in a rectification of charge current through a DTJ when the two barriers have different transparency. Our measurements indeed show a high current rectification ratio for 3-nm-thick, continuous film top electrodes, which is observed for junctions with asymmetric tunnel barriers.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
Nyckelord
- current rectification
- diode effect
- magnetic tunnel junctions (MTJs)
- tunneling spectroscopy
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas