Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-45200" >
An Envelope Domain ...
An Envelope Domain Measurement Test Setup to Acquire Linear Scattering Parameters
-
- Zenteno, Efrain, 1983- (författare)
- Högskolan i Gävle,Ämnesavdelningen för elektronik
-
- Isaksson, Magnus, 1969- (författare)
- Högskolan i Gävle,Ämnesavdelningen för elektronik
-
Wisell, David (författare)
-
visa fler...
-
- Keskitalo, Niclas, 1967- (författare)
- Högskolan i Gävle,Ämnesavdelningen för elektronik
-
Andersen, Olav (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2008
- 2008
- Engelska.
-
Ingår i: 72ND ARFTG MICROWAVE MEASUREMENT SYMPOSIUM. ; , s. 54-57, s. 54-57
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- In this paper, the functionality of a vector network analyzer VNA is implemented using the concept of software defined measurements (SDM) [1], called SDM-VNA. A general measurement set-up based on a vector signal generator (VSG) and a vector signal analyzer (VSA) is used. The set-up allows complete linear characterization using only one receiver. A calibration procedure to remove the systematic errors is applied to the results and compared with a modern VNA, showing good agreement.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Electronics
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas