SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50506"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50506" > Etching of Graphene...

Etching of Graphene Devices with a Helium Ion Beam

Lemme, Max C., 1970- (författare)
Harvard University, Department of Physics
Bell, David C. (författare)
Williams, James R. (författare)
visa fler...
Stern, Lewis A. (författare)
Baugher, Britton W. H. (författare)
Jarillo-Herrero, Pablo (författare)
Marcus, Charles M. (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2009-09-22
2009
Engelska.
Ingår i: ACS Nano. - : American Chemical Society (ACS). - 1936-0851 .- 1936-086X. ; 3:9, s. 2674-2676
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • We report on the etching of graphene devices with a helium ion beam, including in situ electrical measurement during lithography. The etching process can be used to nanostructure and electrically isolate different regions In a graphene device, as demonstrated by etching a channel in a suspended graphene device with etched gaps down to about 10 nm. Graphene devices on silicon dioxide (02) substrates etch with lower He ion doses and are found to have a residual conductivity after etching, which we attribute to contamination by hydrocarbons.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)

Nyckelord

graphene
transistor
helium ion microscope
etching

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

  • ACS Nano (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy