Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50534" >
Investigation of MO...
Investigation of MOS capacitors and SOI-MOSFETs with epitaxial gadolinium oxide (Gd2O3) and titanium nitride (TiN) electrodes
-
Echtermeyer, T. (författare)
-
Gottlob, H. D. B. (författare)
-
Wahlbrink, T. (författare)
-
visa fler...
-
Mollenhauer, T. (författare)
-
Schmidt, M. (författare)
-
Efavi, J. K. (författare)
-
- Lemme, Max C., 1970- (författare)
- AMO GmbH, AMICA, Aachen, Germany
-
Kurz, H. (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier BV, 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Solid-State Electronics. - : Elsevier BV. - 0038-1101 .- 1879-2405. ; 51:4, s. 617-621
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Electrical properties of metal oxide semiconductor (MOS) capacitors with gate stacks of epitaxial gadolinium oxide (Gd2O3) and titanium nitride (TiN) are studied. The influence of CMOS compatible rapid thermal annealing on these gate stacks is examined. Finally, n- and p-type MOS-field effect transistors (MOSFETs) on silicon on insulator (SOI) material with epitaxial Gd2O3 and TiN gate electrodes are presented.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Nanoteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Nano-technology (hsv//eng)
Nyckelord
- high-k
- rare earth oxide
- CMOS
- metal gate
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas