SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50541"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:kth-50541" > Supercritical dryin...

Supercritical drying for high aspect-ratio HSQ nano-structures

Wahlbrink, T. (författare)
Kupper, D. (författare)
Bolten, J. (författare)
visa fler...
Moller, M. (författare)
Lemme, Max C., 1970- (författare)
AMO GmbH, AMICA, Aachen, Germany
Kurz, H. (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Elsevier BV, 2007
2007
Engelska.
Ingår i: Microelectronic Engineering. - : Elsevier BV. - 0167-9317 .- 1873-5568. ; 84:5-8, s. 1045-1048
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The benefits of supercritical resist drying (SRD) technique using carbon dioxide (CO2) are investigated with respect to the resolution of dense patterns and the aspect ratio (AR) of nano-structures in rather thick HSQ layers. For double lines separated by a distance of 50 nm the maximum achievable AR is trebled using SRD processes compared to conventional nitrogen blow. The mechanical stability of resist structures is significantly improved by using SRI).

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)

Nyckelord

supercritical resist drying
SRD
HSQ
electron beam lithography
aspect ratio

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Wahlbrink, T.
Kupper, D.
Bolten, J.
Moller, M.
Lemme, Max C., 1 ...
Kurz, H.
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Nanoteknik
Artiklar i publikationen
Microelectronic ...
Av lärosätet
Kungliga Tekniska Högskolan

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy