SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-100495"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-100495" > Cuticle structure o...

Cuticle structure of the scarab beetle Cetonia aurata analyzed by regression analysis of Mueller-matrix ellipsometric data

Arwin, Hans (författare)
Linköpings universitet,Tillämpad optik,Tekniska högskolan
Berlind, Torun (författare)
Linköpings universitet,Tillämpad optik,Tekniska högskolan
Johs, Blaine (författare)
JA Woollam Co Inc, NE USA
visa fler...
Järrendahl, Kenneth (författare)
Linköpings universitet,Tillämpad optik,Tekniska högskolan
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Optical Society of America, 2013
2013
Engelska.
Ingår i: Optics Express. - : Optical Society of America. - 1094-4087. ; 21:19, s. 22645-22656
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Since one hundred years it is known that some scarab beetles reflect elliptically and near-circular polarized light as demonstrated by Michelson for the beetle Chrysina resplendens. The handedness of the polarization is in a majority of cases left-handed but also right-handed polarization has been found. In addition, brilliant colors with metallic shine are observed. The polarization and color effects are generated in the beetle exoskeleton, the so-called cuticle. The objective of this work is to demonstrate that structural parameters and materials optical functions of these photonic structures can be extracted by advanced modeling of spectral multi-angle Mueller-matrix data recorded from beetle cuticles. A dual-rotating compensator ellipsometer is used to record normalized Mueller-matrix data in the spectral range 400 – 800 nm at angles of incidence in the range 25–75°. Analysis of data measured on the scarab beetle Cetonia aurata are presented in detail. The model used in the analysis mimics a chiral nanostructure and is based on a twisted layered structure. Given the complexity of the nanostructure, an excellent fit between experimental and model data is achieved. The obtained model parameters are the spectral variation of the refractive indices of the cuticle layers and structural parameters of the chiral structure.

Nyckelord

TECHNOLOGY
TEKNIKVETENSKAP

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy