SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-141108"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-141108" > Estimating depolari...

Estimating depolarization with the Jones matrix quality factor

Hilfiker, James N. (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
Hale, Jeffrey S. (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
Herzinger, Craig M. (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
visa fler...
Tiwald, Tom (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
Hong, Nina (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
Schoche, Stefan (författare)
JA Woollam Co Inc, NE 68508 USA
Arwin, Hans (författare)
Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska fakulteten
visa färre...
 (creator_code:org_t)
ELSEVIER SCIENCE BV, 2017
2017
Engelska.
Ingår i: Applied Surface Science. - : ELSEVIER SCIENCE BV. - 0169-4332 .- 1873-5584. ; 421, s. 494-499
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Mueller matrix (MM) measurements offer the ability to quantify the depolarization capability of a sample. Depolarization can be estimated using terms such as the depolarization index or the average degree of polarization. However, these calculations require measurement of the complete MM. We propose an alternate depolarization metric, termed the Jones matrix quality factor, QJM, which does not require the complete MM. This metric provides a measure of how close, in a least-squares sense, a Jones matrix can be found to the measured Mueller matrix. We demonstrate and compare the use of QJM to other traditional calculations of depolarization for both isotropic and anisotropic depolarizing samples; including nonuniform coatings, anisotropic crystal substrates, and beetle cuticles that exhibit both depolarization and circular diattenuation. (C) 2016 Elsevier B.V. All rights reserved.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Materialteknik -- Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Materials Engineering -- Manufacturing, Surface and Joining Technology (hsv//eng)

Nyckelord

Depolarization; Spectroscopic ellipsometry; Mueller matrix; Mueller matrix ellipsometry; Jones matrix quality factor; Depolarization; Index; Thickness nonuniformity; Anisotropy

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy