Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-17105" >
Topotaxial growth o...
Topotaxial growth of Ti2AlN by solid state reaction in AlN/Ti(0001) multilayer thin films
-
- Höglund, Carina, 1981- (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Beckers, Manfred (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Schell, Norbert (författare)
- GKSS Research Center Geesthacht
-
visa fler...
-
- Borany, J.v. (författare)
- Institute of Ion Beam Physics and Materials Research, Forschungszentrum Dresen-Rossendorf
-
- Birch, Jens (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
- Hultman, Lars (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- AIP Publishing, 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Applied Physics Letters. - : AIP Publishing. - 0003-6951 .- 1077-3118. ; 90:174106
- Relaterad länk:
-
http://urn.kb.se/res...
-
visa fler...
-
http://www.hzg.de/im...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The formation of Ti2AlN by solid state reaction between layers of wurtzite-AlN and α-Ti was characterized by in situ x-ray scattering. The sequential deposition of these layers by dual magnetron sputtering onto Al2O3(0001) at 200 °C yielded smooth, heteroepitaxial (0001) oriented films, with abrupt AlN/Ti interfaces as shown by x-ray reflectivity and Rutherford backscattering spectroscopy. Annealing at 400 °C led to AlN decomposition and diffusion of released Al and N into the Ti layers, with formation of Ti3AlN. Further annealing at 500 °C resulted in a phase transformation into Ti2AlN(0001) after only 5 min.
Nyckelord
- NATURAL SCIENCES
- NATURVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas