id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-30148"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-30148" > Direct experimental...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Direct experimental verification of shot noise in short channel MOS transistors
-
- Andersson, Stefan, 1975- (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Elektroniska komponenter
-
- Svensson, Christer, 1941- (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Elektroniska komponenter
- (creator_code:org_t)
- Institution of Engineering and Technology (IET), 2005
- 2005
- Engelska.
- Ingår i: Electronics Letters. - : Institution of Engineering and Technology (IET). - 0013-5194 .- 1350-911X. ; 41:15, s. 869-871
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Drain noise current was measured at an extended temperature range on n-MOS transistors of various lengths made in a 0.18 urn process. A comparison with theoretical noise models strongly indicates the mechanism of shot noise produced near the source by diffusion currents, as proposed by Obrecht et al. © IEE 2005.
Nyckelord
- experimental verification
- shot noise
- short channel MOS
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Andersson, Stefa ...
- Svensson, Christ ...
- Artiklar i publikationen
- Electronics Lett ...
- Av lärosätet
- Linköpings universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
