id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-43431"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-43431" > The effect of the t...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
The effect of the temperature on the bipolar degradation of 3.3 kV 4H-SiC PiN diodes
- Brosselard, P. (författare)
- Tomas, A.P. (författare)
- Camara, N. (författare)
- visa fler...
- Jorda, X. (författare)
- Vellvehi, M. (författare)
- Godignon, P. (författare)
- Millan, J. (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- Proceedings of the 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs : Institute of Electrical and Electronics Engineers ( IEEE ), 2008
- 2008
- Engelska.
- Ingår i: 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices ICs,2008. - Proceedings of the 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs : Institute of Electrical and Electronics Engineers ( IEEE ). ; , s. 237-
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Nyckelord
- NATURAL SCIENCES
- NATURVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Brosselard, P.
- Tomas, A.P.
- Camara, N.
- ul-Hassan, Jawad ...
- Jorda, X.
- Vellvehi, M.
- visa fler...
- Godignon, P.
- Millan, J.
- Bergman, Peder, ...
- visa färre...
- Artiklar i publikationen
- 20th Internation ...
- Av lärosätet
- Linköpings universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
