Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-47477" >
Single-crystal grow...
Single-crystal growth of NaCl-structure Al-Cr-N thin films on MgO(0 0 1) by magnetron sputter epitaxy
-
- Willmann, Herbert (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tunnfilmsfysik
-
- Beckers, Manfred (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Institutionen för fysik, kemi och biologi
-
- Giuliani, Finn (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Institutionen för fysik, kemi och biologi
-
visa fler...
-
- Birch, Jens (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tunnfilmsfysik
-
- Mayrhofer, P.H. (författare)
- Department of Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, 8700 Leoben, Austria
-
- Mitterer, C. (författare)
- Department of Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, 8700 Leoben, Austria
-
- Hultman, Lars (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tunnfilmsfysik
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier BV, 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Scripta Materialia. - : Elsevier BV. - 1359-6462 .- 1872-8456. ; 57:12, s. 1089-1092
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Single-crystal NaCl-structure Al0.68Cr0.32N thin films were deposited onto MgO(0 0 1) substrates. The films exhibit cube-on-cube epitaxial growth with an initial pseudomorphic strained layer before complete relaxation into an isotropic lattice parameter of 4.119 Å as shown by symmetric high-resolution X-ray diffraction and asymmetric reciprocal space maps. The relaxation proceeds via a threading dislocation network as revealed by transmission electron microscopy. Films of 900 nm thickness have a hardness of 32.4 ± 0.5 GPa, an elastic modulus of 460.8 ± 5 GPa, and a room-temperature resistivity of 2.7 × 103 O cm as determined by nanoindentation and four-point probe measurements, respectively. © 2007 Acta Materialia Inc.
Nyckelord
- CrAlN
- Nanoindentation
- Single-crystal growth
- Transmission electron microscopy
- X-ray diffraction
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas