id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-85855"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-85855" > Negative-U System o...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Negative-U System of Carbon Vacancy in 4H-SiC
-
- Tien Son, Nguyen (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Trinh, Xuan Thang (författare)
- Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
-
- Løvlie, L S (författare)
- University of Oslo, Norway
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- American Physical Society, 2012
- 2012
- Engelska.
- Ingår i: Physical Review Letters. - : American Physical Society. - 0031-9007 .- 1079-7114. ; 109:18, s. 187603-
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Using electron paramagnetic resonance (EPR), energy levels of the carbon vacancy (V-C) in 4H-SiC and its negative-U properties have been determined. Combining EPR and deep-level transient spectroscopy we show that the two most common defects in as-grown 4H-SiC-the Z(1/2) lifetime-limiting defect and the EH7 deep defect-are related to the double acceptor (2 - vertical bar 0) and single donor (0 vertical bar +) levels of V-C, respectively.
Nyckelord
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Physical Review Letters (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Tien Son, Nguyen
- Trinh, Xuan Than ...
- Løvlie, L S
- Svensson, B. G.
- Kawahara, K.
- Suda, J.
- visa fler...
- Kimoto, T.
- Umeda, T.
- Isoya, J.
- Makino, T.
- Ohshima, T.
- Janzén, Erik
- visa färre...
- Artiklar i publikationen
- Physical Review ...
- Av lärosätet
- Linköpings universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
