id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-1561"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-1561" > Extremely Thin Sili...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Extremely Thin Silicon DE Detectors For Ion Beam Analysis
- Whitlow, H.J. (författare)
- Winzell, T. (författare)
-
- Thungström, Göran (författare)
- Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
- (creator_code:org_t)
- 1998
- 1998
- Engelska.
- Ingår i: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms. - 0168-583X. ; B 136-138, s. 616-
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- DE detector ion beam analysis
- Electrical engineering, electronics and photonics
- Elektroteknik, elektronik och fotonik
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions ... (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Whitlow, H.J.
- Winzell, T.
- Thungström, Göra ...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
- Nuclear Instrume ...
- Av lärosätet
- Mittuniversitetet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
