Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-17237" >
A Different Approac...
A Different Approach of Determining the Responsivity of n+p Detectors Using Scanning Electron Microscopy
-
- Esebamen, Omeime Xerviar (författare)
- Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
-
- Thungström, Göran (författare)
- Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
-
- Nilsson, Hans-Erik (författare)
- Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
-
(creator_code:org_t)
- 2012-07-20
- 2012
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of semiconductors. - : IOP Publishing. - 1674-4926. ; 33:7, s. 074002-
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- This paper explores an alternative to the standard method of studying the responsivities (the input—output gain) and other behaviours of detectors at low electron energy. The research does not aim to compare the results of differently doped n+p detectors; its purpose is to provide an alternative characterization method (using scanning electron microscopy) to those used in previous studies on the responsivity of n+p doped detectors as a function of the electron radiation energy and other interface parameters.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Condensed matter: electrical
- magnetic and optical
- Electronics and devices
- Semiconductors
- Surfaces
- interfaces and thin films
- Optics
- quantum optics and lasers
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas