SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-1924"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-1924" > Characterization of...

Characterization of Si Wafer Bonding by Injection-Dependent Recombination Velocity

Grivickas, V. (författare)
Thungström, Göran (författare)
Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
Bikbajevas, V. (författare)
visa fler...
Linnros, J. (författare)
Noreika, D. (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
1995
1995
Engelska.
Ingår i: Japanese Journal of Applied Physics, Part 2: Letters. - 0021-4922. ; 34, s. L806-L809
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Wafer bonding recombination interface
Electrical engineering, electronics and photonics
Elektroteknik, elektronik och fotonik

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Grivickas, V.
Thungström, Göra ...
Bikbajevas, V.
Linnros, J.
Noreika, D.
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
Artiklar i publikationen
Japanese Journal ...
Av lärosätet
Mittuniversitetet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy