SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-328"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:miun-328" > Evaluation of an In...

Evaluation of an Integrated Fourier-Transform Spectrometer Utilizing a Lateral Effect Position Sensitive Detector with a Multi-Channel Fabry-Perot Interferometer

Andersson, Henrik (författare)
Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013),Electronics design division
Manuilskiy, Anatoliy (författare)
Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013),Electronics design division
Thungström, Göran (författare)
Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013),Electronics design division
visa fler...
Nilsson, Hans-Erik (författare)
Mittuniversitetet,Institutionen för informationsteknologi och medier (-2013)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2008-02-25
2008
Engelska.
Ingår i: Measurement science and technology. - : IOP Publishing. - 0957-0233 .- 1361-6501. ; 19:4, s. 045306-
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The basis of this paper is the evaluation of an integrated multi-channel Fourier-transform (FT) spectrometer based on a multi-channel wedge Fabry-Perot interferometer and a one-dimensional lateral effect position sensitive detector (PSD). The use of a PSD for an interferogram readout allows for a simple scanning mechanism with no requirement for any position reference. The use of a wedge-shaped interferometer makes it possible to integrate it directly onto the PSD surface, thus producing a very compact spectrometer. The capabilities of the spectrometer are demonstrated by absorption spectral measurements using a reference sample. In addition, spectral measurements on 532 nm DPSS and 632.8 nm He-Ne lasers are presented. The resolution of the spectrometer is approximately 5 nm. The evaluated spectrometer set-up can be used in applications where compact and low cost spectrometers are required, such as in process control and in education. Further, it is shown that there are deteriorations in very high accuracy position measurements, which are caused by changes in incident light intensity. A model describing the above-mentioned nonlinearities was developed based on analysing the equivalent circuit for PSDs and parameters such as leakage current and serial resistance. Additionally, a method is proposed to assist in the reduction of the nonlinearity caused by this effect.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Electrical engineering, electronics and photonics
Elektroteknik, elektronik och fotonik

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy