Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:su-11017" >
High-precision mass...
High-precision mass measurements for fundamental applications using highly-charged ions with SMILETRAP
-
- Nagy, Sz (författare)
- Stockholms universitet,Fysikum
-
- Fritioff, T (författare)
- Stockholms universitet,Fysikum
-
- Bergström, I (författare)
- Stockholms universitet,Manne Siegbahn-laboratoriet
-
visa fler...
-
- Blaum, K (författare)
- Stockholms universitet,Fysikum
-
- Suhonen, M (författare)
- Stockholms universitet,Fysikum
-
- Schuch, R (författare)
- Stockholms universitet,Fysikum
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2007-03-16
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of Physics, Conference Series. - : IOP Publishing. - 1742-6588 .- 1742-6596. ; 58, s. 109-112
- Relaterad länk:
-
http://urn.kb.se/res...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The Penning trap mass spectrometer SMILETRAP takes advantage of highly-charged ions for high-accuracy mass measurements. In this paper recent mass measurements on Li and Ca ions are presented and their impact on fundamental applications discussed, especially the need for accurate mass values of hydrogen-like and lithium-like ions in the evaluation of the electron g-factor measurements in highly-charged ions is emphasized. Such experiments aim to test bound state quantum electrodynamics. Here the ionic mass is a key ingredient, which can be the limiting factor for the final precision.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Atom- och molekylfysik och optik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Atom and Molecular Physics and Optics (hsv//eng)
Nyckelord
- Atomic physics
- Atomfysik
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas