SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-114365"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-114365" > Measurement of low-...

Measurement of low-frequency base and collector current noise and coherence in SiGe heterojunction bipolar transistors using transimpedance amplifiers

Bruce, Staffan (författare)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,SIGNALS AND SYSTEMS
Vandamme, L. K. J. (författare)
Rydberg, Anders (författare)
Uppsala universitet,Mikrovågs- och terahertzteknik
 (creator_code:org_t)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1999
1999
Engelska.
Ingår i: IEEE Transactions on Electron Devices. - : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 0018-9383 .- 1557-9646. ; 46, s. 993-1000
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Nyckelord

TECHNOLOGY
TEKNIKVETENSKAP

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Bruce, Staffan
Vandamme, L. K. ...
Rydberg, Anders
Artiklar i publikationen
IEEE Transaction ...
Av lärosätet
Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy