Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-171983" >
A simple TEM method...
A simple TEM method for fast thickness characterization of suspendedgraphene flakes
-
- Akhtar, Sultan (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Electron Microscopy and Nanoengineering
-
- Rubino, Stefano (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Electron Microscopy and Nanoengineering
-
- Leifer, Klaus (författare)
- Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Electron Microscopy and Nanoengineering
-
(creator_code:org_t)
- Engelska.
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Nanoteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Nano-technology (hsv//eng)
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- ovr (ämneskategori)