The analysis of nanostructures and interface in vacuum annealed Si rich SiC film by 3D spectros electron tomography: use of spectrum imaging technique on transmission electron microscopy

Xie, Ling (författare)

Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap

Karol, Jarolimek (författare)

Photovoltaic Materials and Devices, Delft University of Technology

Van Swaaij, Rene A. C. M. M. (författare)

Photovoltaic Materials and Devices, Delft Univeristy of Technology, P.O. Box 5031, 2600 GA Delft, The Netherlands

visa fler...

Zeman, Miro (författare)

Photovoltaic Materials and Devices, Delft Univeristy of Technology, P.O. Box 5031, 2600 GA Delft, The Netherlands

Leifer, Klaus (författare)

Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap

visa färre...

 (creator_code:org_t)

2014

2014

Engelska.

Relaterad länk:

https://urn.kb.se/re...

• Konferensbidrag (refereegranskat)