id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-36698"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-36698" > Neutron induced sin...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Neutron induced single-word multiple-bit upset in SRAM
-
- Johansson, K (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för neutronforskning
-
- Ohlsson, M (författare)
- Uppsala universitet,The Svedberg-laboratoriet
- Olsson, N (författare)
- visa fler...
- Blomgren, J (författare)
- Renberg, PU (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 1999
- 1999
- Engelska.
- Ingår i: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - : IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC. - 0018-9499. ; 46:6, s. 1427-1433
- Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The Single-word Multiple-bit Upset (SMU) frequency fbr nine commercial Static Random Access Memories (SRAM) have been evaluated at eight different neutron energies; 0; 11MeV, 14MeV, 22MeV, 35MeV, 45MeV, 75MeV, 96MeV, 160MeV. The SRAM types used at these e
Nyckelord
- EVENT UPSETS; GROUND-LEVEL; STATIC RAMS; FLIGHT
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Johansson, K
- Ohlsson, M
- Olsson, N
- Blomgren, J
- Renberg, PU
- Artiklar i publikationen
- IEEE TRANSACTION ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
