id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-46211"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-46211" > Modeling and charac...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Modeling and characterization of capacitive coupling in trench-isolated structures on SOI substrates
-
- Heinle, Ulrich (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
- Vestling, Lars (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
- Olsson, Jörgen (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
- (creator_code:org_t)
- 2004
- 2004
- Engelska.
- Ingår i: Solid-State Electronics. - 0038-1101 .- 1879-2405. ; 48:1, s. 43-49
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Nyckelord
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Solid-State Electronics (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Heinle, Ulrich
- Vestling, Lars
- Olsson, Jörgen
- Artiklar i publikationen
- Solid-State Elec ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
