id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84668"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84668" > Ellipsometry on spu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Ellipsometry on sputter-deposited tin oxide films: optical constants versus stoichiometry, hydrogen content, and amount of electrochemically intercalated lithium
-
- Isidorsson, J (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap
- Granqvist, CG (författare)
- von, Rottkay K (författare)
- visa fler...
- Rubin, M (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- OPTICAL SOC AMER, 1998
- 1998
- Engelska.
- Ingår i: APPLIED OPTICS. - : OPTICAL SOC AMER. - 0003-6935. ; 37:31, s. 7334-7341
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Tin oxide thin films were deposited by reactive radio-frequency magnetron sputtering onto In2O3:Sn-coated and bare glass substrates. Optical constants in the 300-2500-nm wavelength range were determined by a combination of variable-angle spectroscopi
Nyckelord
- ATOMIC-FORCE MICROSCOPY; EFFECTIVE-MEDIUM MODELS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; TRANSPARENT ELECTRODES; SURFACE-ROUGHNESS; SN OXIDE; ELECTROCHROMISM; REFLECTANCE; CAPACITY; INDEXES
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Isidorsson, J
- Granqvist, CG
- von, Rottkay K
- Rubin, M
- Artiklar i publikationen
- APPLIED OPTICS
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
