SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84709"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84709" > Electrical investig...

Electrical investigation of the silicon/diamond interface

Edholm, Bengt (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
Olsson, Jörgen (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
Keskitalo, Niklas (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
visa fler...
Vestling, Lars (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
visa färre...
 (creator_code:org_t)
1997
1997
Engelska.
Ingår i: Microelectronic Engineering. - 0167-9317 .- 1873-5568. ; 36:1-4, s. 245-248
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • A new method for measuring the interface properties, using diamond terminated silicon p-n diodes, is used to quantify the electrical quality and to determine the conduction mechanism of the silicon/diamond interface for two types of diamond. It was found

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

DIAMOND; DEVICES; SILICON
Electronics
Elektronik

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy