Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84709" >
Electrical investig...
Electrical investigation of the silicon/diamond interface
-
- Edholm, Bengt (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
- Olsson, Jörgen (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
- Keskitalo, Niklas (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
visa fler...
-
- Vestling, Lars (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 1997
- 1997
- Engelska.
-
Ingår i: Microelectronic Engineering. - 0167-9317 .- 1873-5568. ; 36:1-4, s. 245-248
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- A new method for measuring the interface properties, using diamond terminated silicon p-n diodes, is used to quantify the electrical quality and to determine the conduction mechanism of the silicon/diamond interface for two types of diamond. It was found
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- DIAMOND; DEVICES; SILICON
- Electronics
- Elektronik
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas