id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-85966"
Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-85966" > Characterisation of...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Characterisation of non-organofunctional silane films on metal substrates by ToF-SIMS, AES and XPS
-
- Bexell, U (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,MATERIALS SCIENCE/UPPSALA-BORLÄNGE
- (creator_code:org_t)
- 2001
- Engelska.
- Licentiatavhandling (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Materials science
- Teknisk materialvetenskap
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- lic (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Characterisation of non-organofunctional silane films on metal substrates by ToF... (Sök publikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Bexell, U
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Materialteknik
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
