SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:gup.ub.gu.se/124361"
 

Sökning: id:"swepub:oai:gup.ub.gu.se/124361" > Structural properti...

Structural properties of relaxed Ge buffer layers on Si(001): effect of layer thickness and low temperature Si initial buffer

Myrberg, Tobias, 1975 (författare)
Gothenburg University,Göteborgs universitet,Institutionen för fysik (GU),Department of Physics (GU),University of Gothenburg
Jacob, AP (författare)
Nur, O. (författare)
visa fler...
Friesel, Milan, 1948 (författare)
Willander, M (författare)
Patel, CJ (författare)
Campidelli, Y (författare)
Hernandez, C (författare)
Kermarrec, O (författare)
Bensahel, D (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2004
2004
Engelska.
Ingår i: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS. - 0957-4522 .- 1573-482X. ; 15:7, s. 411-417
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Materialteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Materials Engineering (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Annan teknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Other Engineering and Technologies (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Nyckelord

2-dimensional electron gases
x-ray-diffraction
growth
strain
silicon
heterostructures
mobility
relaxation
surfactant
substrate
relaxation

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy