id:"swepub:oai:gup.ub.gu.se/167841"
Sökning: id:"swepub:oai:gup.ub.gu.se/167841" > Secondary Ion Mass ...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Secondary Ion Mass Spectrometry: Characterizing Complex Samples in Two and Three Dimensions.
-
- Fletcher, John S. (författare)
- Gothenburg University,Göteborgs universitet,Institutionen för kemi och molekylärbiologi,Department of Chemistry and Molecular Biology,University of Gothenburg
- Vickerman, John C (författare)
- (creator_code:org_t)
- 2012-11-08
- 2013
- Engelska.
- Ingår i: Analytical chemistry. - : American Chemical Society (ACS). - 1520-6882 .- 0003-2700. ; 85:2, s. 610-639
- Forskningsöversikt (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Kemi -- Analytisk kemi (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Chemical Sciences -- Analytical Chemistry (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- for (ämneskategori)
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Fletcher, John S ...
- Vickerman, John ...
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Kemi
- och Analytisk kemi
- Artiklar i publikationen
- Analytical chemi ...
- Av lärosätet
- Göteborgs universitet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
