Analysis of liposome model systems by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Lovric, Jelena, 1980 (författare): Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Department of Chemical and Biological Engineering; Chalmers University of Technology; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Keighron, Jacqueline, 1982 (författare): Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Department of Chemical and Biological Engineering; Chalmers University of Technology; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Angerer, Tina B., 1987 (författare): Gothenburg University,Göteborgs universitet,Institutionen för kemi och molekylärbiologi,Department of Chemistry and Molecular Biology,University of Gothenburg,Department of Chemistry and Molecular Biology; University of Gothenburg; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Li, Xianchan, 1982 (författare): Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Department of Chemical and Biological Engineering; Chalmers University of Technology; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Malmberg, Per, 1974 (författare): Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Department of Chemical and Biological Engineering; Chalmers University of Technology; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Fletcher, John S. (författare): Gothenburg University,Göteborgs universitet,Institutionen för kemi och molekylärbiologi,Department of Chemistry and Molecular Biology,University of Gothenburg,Department of Chemistry and Molecular Biology; University of Gothenburg; SE-412 96 Gothenburg Sweden

Ewing, Andrew G, 1957 (författare): Gothenburg University,Göteborgs universitet,Institutionen för kemi och molekylärbiologi,Department of Chemistry and Molecular Biology,University of Gothenburg,Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Department of Chemical and Biological Engineering; Chalmers University of Technology; SE-412 96 Gothenburg Sweden;Department of Chemistry and Molecular Biology; University of Gothenburg; SE-412 96 Gothenburg Sweden

(creator_code:org_t)

2014-10-27
2014
Engelska.
Ingår i: Surface and Interface Analysis: 19th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). - : Wiley. - 0142-2421 .- 1096-9918.

Relaterad länk:: https://europepmc.or...; visa fler...; https://research.cha... (primary) (free); https://gup.ub.gu.se...; https://doi.org/10.1...; https://research.cha...; https://urn.kb.se/re...; visa färre...

Abstract Ämnesord

Stäng

Av författaren/redakt...: Lovric, Jelena, ...; Keighron, Jacque ...; Angerer, Tina B. ...; Li, Xianchan, 19 ...; Malmberg, Per, 1 ...; Fletcher, John S ...; visa fler...; Ewing, Andrew G, ...; visa färre...

Om ämnet

Av lärosätet: Göteborgs universitet; Chalmers tekniska högskola; Uppsala universitet

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.