SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:99564106-9802-4028-97e4-ec7b86bee26f"
 

Sökning: id:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:99564106-9802-4028-97e4-ec7b86bee26f" > Current−Voltage Cha...

Current−Voltage Characterization of Individual As-Grown Nanowires Using a Scanning Tunneling Microscope

Timm, Rainer (författare)
Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Persson, Olof (författare)
Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Engberg, David (författare)
visa fler...
Fian, Alexander (författare)
Webb, James (författare)
Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Wallentin, Jesper (författare)
Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Jönsson, Andreas (författare)
Borgström, Magnus (författare)
Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Samuelson, Lars (författare)
Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Mikkelsen, Anders (författare)
Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2013-10-02
2013
Engelska.
Ingår i: Nano Letters. - : American Chemical Society (ACS). - 1530-6992 .- 1530-6984. ; 13:11, s. 5182-5189
Relaterad länk:
http://dx.doi.org/10... (free)
visa fler...
https://doi.org/10.1...
https://lup.lub.lu.s...
https://doi.org/10.1...
visa färre...
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Utilizing semiconductor nanowires for (opto)- electronics requires exact knowledge of their current−voltage properties. We report accurate on-top imaging and I−V characterization of individual as-grown nanowires, using a subnanometer resolution scanning tunneling microscope with no need for additional microscopy tools, thus allowing versatile application. We form Ohmic contacts to InP and InAs nanowires without any sample processing, followed by quantitative measurements of diameter dependent I−V properties with a very small spread in measured values compared to standard techniques.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology -- Nano-technology (hsv//eng)

Nyckelord

semiconductor nanowire
scanning tunneling microscopy
Ohmic contact
nanowire contacts
resistivity

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy