id:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:d1f35e97-edaf-4923-aed3-fc34d03c54fe"
Sökning: id:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:d1f35e97-edaf-4923-aed3-fc34d03c54fe" > Special Issue On "A...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Special Issue On "Advanced Control Methods For Scanning Probe Microscopy"
- Schitter, Georg (författare)
-
- Åström, Karl Johan (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Institutionen för reglerteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Automatic Control,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
- (creator_code:org_t)
- 2009
- 2009
- Engelska.
- Ingår i: Asian Journal of Control. - 1934-6093. ; 11:2, s. 101-103
- Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Reglerteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Control Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- vet (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Asian Journal of Control (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Schitter, Georg
- Åström, Karl Joh ...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- och Reglerteknik
- Artiklar i publikationen
- Asian Journal of ...
- Av lärosätet
- Lunds universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
