SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:research.chalmers.se:2072a7ce-080c-41f8-80ae-0282c73f2a0e"
 

Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:2072a7ce-080c-41f8-80ae-0282c73f2a0e" > Ion-beam-induced be...

Ion-beam-induced bending of semiconductor nanowires

Hanif, Imran, 1980 (författare)
University of Huddersfield
Camara, Osmane (författare)
University of Huddersfield
Tunes, Matheus A (författare)
University of Huddersfield
visa fler...
Harrison, Robert W. (författare)
University of Huddersfield
Greaves, Graeme (författare)
University of Huddersfield
Donnelly, Stephen E. (författare)
University of Huddersfield
Hinks, Jonathan A. (författare)
University of Huddersfield
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2018-06-08
2018
Engelska.
Ingår i: Nanotechnology. - : IOP Publishing. - 1361-6528 .- 0957-4484. ; 29:33, s. 335701-
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Atom- och molekylfysik och optik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Atom and Molecular Physics and Optics (hsv//eng)
NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Annan fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Other Physics Topics (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Materialteknik -- Annan materialteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Materials Engineering -- Other Materials Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

semiconductor nanowires
electron microscopy
in situ transmission
radiation damage
ion irradiation-induced bending

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy