Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:28e536ff-2b5a-4853-99ab-65447f36e6aa" >
Reflectance anisotr...
Reflectance anisotropy spectroscopy of magnetite (110) surfaces
-
Fleischer, K. (författare)
-
- Verre, Ruggero, 1985 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
Mauit, O. (författare)
-
visa fler...
-
Sofin, R. G. S. (författare)
-
Farrell, L. (författare)
-
Byrne, C. (författare)
-
Smith, C. M. (författare)
-
McGilp, J. F. (författare)
-
Shvets, I. V. (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2014
- 2014
- Engelska.
-
Ingår i: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics. - 2469-9950 .- 2469-9969. ; 89:19
- Relaterad länk:
-
http://publications.... (primary) (free)
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://research.cha...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Reflectance anisotropy spectroscopy (RAS) has been used to measure the optical anisotropies of bulk and thin-film Fe3O4(110) surfaces. The spectra indicate that small shifts in energy of the optical transitions, associated with anisotropic strain or electric field gradients caused by the (110) surface termination or a native oxide layer, are responsible for the strong signal observed. The RAS response was then measured as a function of temperature. A distinct change in the RAS line-shape amplitude was observed in the spectral range from 0.8 to 1.6 eV for temperatures below the Verwey transition of the crystal. Finally, thin-film magnetite was grown by molecular beam epitaxy on MgO(110) substrates. Changes in the RAS spectra were found for different film thickness, suggesting that RAS can be used to monitor the growth of magnetite (110) films in situ. The thickness dependence of the RAS is discussed in terms of various models for the origin of the RAS signal.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Annan teknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Other Engineering and Technologies (hsv//eng)
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Nanoteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Nano-technology (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Fleischer, K.
-
Verre, Ruggero, ...
-
Mauit, O.
-
Sofin, R. G. S.
-
Farrell, L.
-
Byrne, C.
-
visa fler...
-
Smith, C. M.
-
McGilp, J. F.
-
Shvets, I. V.
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Annan teknik
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Nanoteknik
- Artiklar i publikationen
-
Physical Review ...
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola