Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:35876a35-0ccc-4c64-a2b3-47c3f1b8216d" >
A new test structur...
A new test structure for parasitic resistance extraction in bipolar transistors
-
Linder, Martin (författare)
-
- Ingvarson, Fredrik, 1972 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Jeppson, Kjell, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa fler...
-
Zhang, Shi-Li (författare)
-
Grahn, Jan (författare)
-
Östling, Mikael (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2001
- 2001
- Engelska.
-
Ingår i: Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures. ; , s. 25-30
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)