SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:research.chalmers.se:375d4133-1e7a-4dbe-86f2-ee24b44db3c4"
 

Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:375d4133-1e7a-4dbe-86f2-ee24b44db3c4" > Fast Measurement of...

Fast Measurement of Antenna Pattern Overlap Matrix in Reverberation Chamber

Jamaly, Nima, 1979 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Derneryd, Anders (författare)
Telefonaktiebolaget L M Ericsson,Ericsson
 (creator_code:org_t)
2013-02
2013
Engelska.
Ingår i: Electronics Letters. - : Institution of Engineering and Technology (IET). - 1350-911X .- 0013-5194. ; 49:5, s. 318-319
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Presented is a fast way for the measurement of the pattern overlap matrix in an arbitrary multi-port antenna system by a reverberation chamber. This parameter is central for calculation of the spatial correlation between different elements with arbitrary terminations. To the authors' knowledge, this is the fastest method for the measurement of the pattern overlap matrix in a lossy structure.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Jamaly, Nima, 19 ...
Derneryd, Anders
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
Artiklar i publikationen
Electronics Lett ...
Av lärosätet
Chalmers tekniska högskola

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy