Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:37acd2ae-d1e5-4f3f-acb3-8f47ded483a9" >
Interface defects i...
Interface defects in HfO2, LaSiOx and Gd2O3 high-k/metal gate structures on silicon: Energy distribution and passivation
-
Hurley, P.K. (författare)
-
Cherkaoui, K. (författare)
-
O'Connor, E (författare)
-
visa fler...
-
Groenland, A.W. (författare)
-
Lemme, M.C. (författare)
-
Gottlob, H.D.B. (författare)
-
Schmidt, M (författare)
-
Hall, S. (författare)
-
Lu, Y. (författare)
-
Buiu, O. (författare)
-
- Raeissi, Bahman, 1979 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Piscator, Johan, 1977 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Proc. Electrochemical Society Meeting, Washington DC, October 2007.
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Annan teknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Other Engineering and Technologies (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
- Av författaren/redakt...
-
Hurley, P.K.
-
Cherkaoui, K.
-
O'Connor, E
-
Groenland, A.W.
-
Lemme, M.C.
-
Gottlob, H.D.B.
-
visa fler...
-
Schmidt, M
-
Hall, S.
-
Lu, Y.
-
Buiu, O.
-
Raeissi, Bahman, ...
-
Piscator, Johan, ...
-
Engström, Olof, ...
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Annan teknik
- Artiklar i publikationen
- Proc. Electroche ...
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola