Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:37ff16c2-b306-4f17-b35b-ab017e69cb0f" >
Investigation of ga...
Investigation of gate edge effects on interface traps densities in 3C-SiC MOS capacitors
-
Gutt, T. (författare)
-
Malakowski, T. (författare)
-
Przewlocki, H. M. (författare)
-
visa fler...
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
Bakowski, M. (författare)
-
Esteve, R. (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2012
- 2012
- Engelska.
-
Ingår i: Material Science and Engineering B. - 2161-6221. ; 177, s. 1327-
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering (hsv//eng)
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas