id:"swepub:oai:research.chalmers.se:6535fd5b-0161-47ba-bce6-c8d267cb31a6"
Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:6535fd5b-0161-47ba-bce6-c8d267cb31a6" > A procedure for cha...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
A procedure for characterizing the BJT base resistance and Early voltages utilizing a dual base transistor test structure
-
- Ingvarson, Fredrik, 1972 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- Linder, Martin (författare)
-
- Jeppson, Kjell, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- visa fler...
- Zhang, Shi-Li (författare)
- Grahn, Jan (författare)
- Östling, Mikael (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2001
- 2001
- Engelska.
- Ingår i: Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures. ; , s. 31-36
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Ingvarson, Fredr ...
- Linder, Martin
- Jeppson, Kjell, ...
- Zhang, Shi-Li
- Grahn, Jan
- Östling, Mikael
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
- Proceedings of t ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
