id:"swepub:oai:research.chalmers.se:7c496f6a-e29d-4551-82b5-15116c05559c"
Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:7c496f6a-e29d-4551-82b5-15116c05559c" > Preparation of TEM ...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Preparation of TEM specimens from fragile oxide films using focused ion beam (FIB)
-
- Angenete, Johan, 1971 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Stiller, Krystyna Marta, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Svensson, Henrik (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- (creator_code:org_t)
- 2002
- 2002
- Engelska.
- Ingår i: 15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM-15).
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- 15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM-15) (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Angenete, Johan, ...
- Stiller, Krystyn ...
- Svensson, Henrik
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Materialteknik
- Artiklar i publikationen
- 15th Internation ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
