Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:7e47fbfe-6063-461f-9f4c-512181b1f807" >
Extracting the rela...
Extracting the relative dielectric constant for “high-k layers”from CV measurements – errors and error propagation
-
- Buiu, Octavian (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
Hall, S. (författare)
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa fler...
-
- Raeissi, Bahman, 1979 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Lemme, Max (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Hurley, Paul (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Cherkaoui, Karim (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2007
- 2007
- Engelska.
-
Ingår i: Microelectronics Reliability. ; 47, s. 678-
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas