SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:research.chalmers.se:91bceab8-4324-4f0c-bc6c-528b54ecbdda"
 

Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:91bceab8-4324-4f0c-bc6c-528b54ecbdda" > XPS Depth Profiling...

XPS Depth Profiling of Air-Oxidized Nanofilms of NbN on GaN Buffer-Layers

Lubenchenko, AV, 1966 (författare)
National Research University Moscow Power Engineering Institute
Batrakov, AA (författare)
National Research University Moscow Power Engineering Institute
Krause, Sascha, 1989 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
visa fler...
Pavolotskiy, Alexey, 1968 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Shurkaeva, IV (författare)
National Research University Moscow Power Engineering Institute
Ivanov, DA (författare)
National Research University Moscow Power Engineering Institute
Lubenchenko, OI (författare)
National Research University Moscow Power Engineering Institute
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2017-11-23
2017
Engelska.
Ingår i: Journal of Physics: Conference Series. - : IOP Publishing. - 1742-6588 .- 1742-6596. ; 917:9
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • XPS depth chemical and phase profiling of an air-oxidized niobium nitride thin film on a buffer-layer GaN is performed. It is found that an intermediate layer of Nb5N6 and NbON x under the layer of niobium oxide is generated.I

Ämnesord

NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

kon (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy