id:"swepub:oai:research.chalmers.se:bbc88d9e-4625-463c-a807-18e3e05bb746"
Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:bbc88d9e-4625-463c-a807-18e3e05bb746" > Thermal and electri...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Thermal and electrical instabilities in wafer bonded SiO2 layers
-
- Ericsson, Per, 1968 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Bengtsson, Stefan, 1961 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- (creator_code:org_t)
- 1994
- 1994
- Engelska.
- Ingår i: Proc. 25th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference. IEEE.
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Proc. 25th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference. IEEE (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Ericsson, Per, 1 ...
- Bengtsson, Stefa ...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- och Annan elektrotek ...
- Artiklar i publikationen
- Proc. 25th IEEE ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
