Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:d7806fa8-d241-4568-8136-d2b56e6d5579" >
Oxide Degradation O...
Oxide Degradation Of Wafer Bonded Metal-Oxide Semiconductor Capacitors Following Fowler-Nordheim Electron Injection
-
- Bengtsson, Stefan, 1961 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Jauhiainen, Anders, 1964 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
(creator_code:org_t)
- 1992
- 1992
- Engelska.
-
Ingår i: Journal Of The Electrochemical Society. ; 139:8, s. 2302-2306
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas