Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:e4e74a13-746d-4901-8e40-eb61b3d7b0a3" >
Microroughness char...
Microroughness characterisation using 2D fourier transform of AFM images
-
- Bergh, Mats, 1968 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Andersson, Mats O., 1963 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Bengtsson, Stefan, 1961 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
(creator_code:org_t)
- 1994
- 1994
- Engelska.
-
Ingår i: Proc. 25th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference. IEEE..
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas