SwePub
Tyck till om SwePub Sök här!
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Engström Olof 1943 )
 

Sökning: WFRF:(Engström Olof 1943 ) > (2005-2009) > Charging phenomena ...

Charging phenomena at the interface between high-k dielectrics and SiOx interlayers

Engström, Olof, 1943 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Raeissi, Bahman, 1979 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Piscator, Johan, 1977 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
visa fler...
Mitrovic, I. Z. (författare)
Hall, S. (författare)
Gottlob, H. D. B. (författare)
Schmidt, M. (författare)
Hurley, P.K. (författare)
Cherkaoui, K. (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2009
2009
Engelska.
Ingår i: 8th Symposium Diagnostics & Yield Advanced Silicon Devices and Technologies for the ULSI Era, Warsaw, June 22 - 24, 2009 (Invited).
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Annan teknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Other Engineering and Technologies (hsv//eng)
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Annan teknik -- Övrig annan teknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Other Engineering and Technologies -- Other Engineering and Technologies not elsewhere specified (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

kon (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy